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纤锌矿铁电体有望为晶圆级集成铁电存储器提供一条可行路径，但其耐久性受限，通常在约108次循环后即失效。在此，西安电子科技大学韩根全教授和周久人教授等人确定了氮空位团簇化与长程渗流迁移是驱动漏电流增长和