已收录文章摘要，完整内容可前往原文阅读。
近日，复旦大学物理学系安正华教授团队利用自主研发的扫描噪声显微镜（SNoiM）结合扫描热显微镜（SThM）技术，在HgTe和HgCdTe纳米沟道器件中首次同时“看见”了电子温度、晶格温度以及对应的热电